Энциклопедический словарь нанотехнологий

СПЕКТРОСКОПИЯ ХАРАКТЕРИСТИЧЕСКИХ ПОТЕРЬ ЭНЕРГИИ ЭЛЕКТРОНАМИ

Термин
спектроскопия характеристических потерь энергии электронами
Термин на английском
electron energy loss spectroscopy
Синонимы
Аббревиатуры
СХПЭЭ, EELS
Связанные термины
спектроскопия высокого разрешения характеристических потерь энергии электронами
Определение

разновидность электронной спектроскопии, основанная на анализе неупруго рассеянных электронов, которые потеряли фиксированные порции энергии в процессе взаимодействия с твердым телом.

Описание

Характеристические потери энергии электронами покрывают широкий диапазон от 10-3до 104эВ и могут происходить в результате различных процессов рассеяния, таких как:

  1. возбуждение глубоких уровней (100 – 104эВ);
  2. возбуждение плазмонов и электронных межзонных переходов (1 – 100 эВ);
  3. возбуждение колебаний атомов поверхности и адсорбата (10-3– 1 эВ).

Термин "спектроскопия характеристических потерь энергии электронами (СХПЭЭ)" имеет двойное значение. С одной стороны, он используется как общий термин для обозначения методов анализа потерь энергии электронами во всем диапазоне от 10-3до 104эВ.

С другой стороны, он имеет более узкое значение для обозначения методики исследования характеристических потерь только второй группы, с энергиями в диапазоне от нескольких эВ до нескольких десятков эВ, связанных с возбуждением плазмонов и электронных межзонных переходов. При этом первая группа потерь является предметом спектроскопии ХПЭЭ глубоких уровней, а третья - спектроскопии ХПЭЭ высокого разрешения. Наиболее же частое использование метода СХПЭЭ (именно в узком смысле) связано с решением таких задач, как определение плотности электронов, участвующих в плазменных колебаниях, и химический анализ образцов, включая анализ распределения элементов по глубине.

Авторы
  • Зотов Андрей Вадимович, д.ф.-м.н.
  • Саранин Александр Александрович, д.ф.-м.н.
Ссылки
  1. Введение в физику поверхности: Пер. с англ. / Оура Кендзиро, Лифшиц В.Г., Саранин А.А., Зотов А.В., Катаяма М. - М. Наука, 2006. - 490 с.
Иллюстрации
Теги
Разделы
Методы диагностики и исследования наноструктур и наноматериалов
(Источник: «Словарь основных нанотехнологических терминов РОСНАНО»)