Энциклопедический словарь нанотехнологий
МЕТРОЛОГИЯ, СТАНДАРТИЗАЦИЯ И СЕРТИФИКАЦИЯ ПРОДУКЦИИ НАНОИНДУСТРИИ (ВКЛЮЧАЯ МЕТОДИКИ АНАЛИЗА И ИСПЫТАНИЙ)
Статьи
- XAFS
- БЭТ, метод
- гало
- дислокация
- дисперсность
- индентирование при ползучести
- индентор
- карта износа
- карты трения
- критическая концентрация мицеллообразования
- микроволновая спектроскопия
- микроморфология
- нанометр
- нанопорошок
- нанотрибология
- оптический пинцет
- предел обнаружения
- просвечивающий электронный микроскоп
- рентгеновская спектроскопия
- туннелирование
- царапание на микро-/наномасштабном уровне
- шероховатость
- электронная микроскопия
- электронный микроскоп
- эффект Мёссбауэра
(Источник: «Словарь основных нанотехнологических терминов РОСНАНО»)